Lo spettrometro a fluorescenza EDX 4500H X utilizza il principio di rilevazione XRF per ottenere analisi rapide, accurate e non distruttive di vari componenti elementari.
La caratteristica principale di questo strumento è l'uso di un sistema di vuoto intelligente, che può eccitare efficacemente elementi leggeri come Si, P, S, Al, Mg, ecc La tecnologia XRF può analizzare accuratamente elementi ad alto contenuto come Cr, Ni, Mo, ecc. Svolge un ruolo nel controllo del processo di fusione con breve tempo di prova, migliorando notevolmente l'efficienza di rilevazione e l'efficienza del lavoro.
Inoltre, è anche ampiamente usato nell'analisi della lega, nell'analisi totale degli elementi e nelle applicazioni di rilevamento degli elementi nocivi.
Caratteristiche di prestazione
Tubo a raggi X a finestra sottile efficiente
La tecnologia multicanale digitale rende i test più veloci, con una velocità di conteggio fino a 100000 CPS e alta precisione. Buona prestazione nella prova della lega
Rilevatore di deriva del silicio SDD, con buona linearità energetica, risoluzione energetica e caratteristiche spettrali e alto rapporto picco/indietro
Eccitazione a raggi X a bassa energia dell'elemento sotto prova, con buon effetto di eccitazione sugli elementi leggeri quali Si e P
Sistema intelligente di pompaggio a vuoto, schermando l'influenza dell'aria, espandendo notevolmente la portata della prova
Il dispositivo automatico di stabilizzazione dello spettro assicura la coerenza del funzionamento dello strumento
Unità a circuito elettronico con elevato rapporto segnale/rumore
Commuta automaticamente collimatori e filtri per campioni diversi, eliminando il noioso funzionamento manuale
La tecnologia di decomposizione spettrale decompone i picchi spettrali, garantendo che i risultati delle prove degli elementi misurati abbiano la stessa accuratezza analitica
Il metodo di regressione lineare multi parametro sopprime significativamente gli effetti di assorbimento e miglioramento tra gli elementi
Telecamera ad alta definizione integrata

Il display LCD rende chiari a colpo d'occhio i parametri importanti dello strumento (pressione del tubo, portata del tubo, grado di vuoto)

parametro tecnico
Modello di prodotto: EDX 4500H
Nome del prodotto: Spettrometro di fluorescenza a raggi X
Gamma degli elementi di misura: dal sodio (Na) all'uranio (U)
Gamma di analisi del contenuto degli elementi: Ppm -99,99% (diversi elementi hanno diversi intervalli di analisi)
Analisi simultanea degli elementi: decine di elementi possono essere misurati contemporaneamente
Tempo di misurazione: 30-200 secondi
La risoluzione di energia del rivelatore è 145 ± 5eV
Pressione del tubo: 5KV-50KV
Portata del tubo: 50 μ A-1000 μ A
Stato dell'oggetto di misura: polvere, solido, liquido
Tensione di ingresso: AC 110V/220V
Temperatura ambientale: 15 ℃ -30 ℃
Umidità ambientale: 35% -70%
Volume della cavità del campione: 320mm × 100mm
Dimensioni: 660mm × 510mm × 350mm

Peso: 65Kg

Configurazione standard
Efficiente tubo ultrasottile a raggi X della finestra
Rilevatore di deriva al silicio SDD
Tecnologia digitale multicanale
Sistema di miglioramento del percorso ottico
Unità di circuito elettronico ad alto rapporto segnale-rumore
Telecamera ad alta definizione integrata
Collimatore e filtro a commutazione automatica
Dispositivo automatico di stabilizzazione dello spettro
Modalità tripla protezione di sicurezza
Struttura complessiva affidabile del telaio in acciaio
Schermo LCD di visualizzazione di stato 90mm × 70mm
Pompa per vuoto
area di applicazione
Prova della lega, analisi completa degli elementi, prova degli elementi pericolosi (RoHS, alogeno)